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제품소개

반도체 검사 부품 및 설비

Home > 제품소개 > 반도체 검사 부품 및 설비 > 프로브카드
LED용 프로브카드
  • 용도
    LED Chip 제조 공정 중 Package Assembly 이전에 각 Chip들의 검사에 사용되는 프로브카드이다.
  • 특징
    - 레늄텅스텐(ReW)에 근접하는 고경도
    - 표면산화가 일어나기 어려움
    - 부착 이물질과 화합물이 생성되기 어려움
    - 접촉저항이 작음
    - 고온에서 비저항이 작음
    - 허용전류치가 큼


DDI용 프로브카드
  • 용도
    박막액정표시장치(LCD)를 구동시키는 LCD구동 IC(DDI)용 검사 프로브카드이다. DDI의 적용제품으로는 노트북용 중대형 TFT LCD뿐만 아니라 휴대폰에 들어가는 소형 TFT LCD 컬러 STN LCD등 그 종류가 다양하다.
  • 특징
    - Fine Pitch 대응
    - Min Pitch 20μｍ검증
    - PAD Size X축 Min12μｍ 대응.
    - 1X2, 2X1 Array Test 대응.
    - Low Particle Needle 적용으로 검사 수율 향상


ASIC용 프로브카드
  • 용도
    ASIC(Application Specific Integrated Circuit) - 주문형 반도체 칩 검사 프로브카드이다. 범용 IC와 달리 사용자의 주문에 따라 제조되는 주문형 IC로 반주문형(Semi-Custom)과 완전 주문형(Full-Custom)IC의 총칭이다. ASIC의 대표적 제품으로 Gate area 와 Standard cell이 있다.
  • 특징
    - AL PAD Probing
    - Fine Pitch.
    - 2X2, 1X4, 1X8 Array 대응 가능.
    - 多Para 대응 가능


Memory용 프로브카드
  • 용도
    컴퓨터 디지털 카메라,MP3 플레이어, 휴대폰 등의 전자기기에 필수적으로 필요한 메모리, 플래시 메노리 카드용 검사 프로브카드이다.
  • 특징
    - 多Pin 대응 가능
    - 多Para 대응 가능
    - 안정된 Contact Force
    - Long Life Time